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2026-05-21 -
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TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測試儀允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量。 緊湊的臺式設備非常適合快速準確地測量最大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的樣品。 除了測量薄的導電層外，還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。
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TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測試儀允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量。 緊湊的臺式設備非常適合快速準確地測量最大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的樣品。 除了測量薄的導電層外，還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。
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1758產品描述
2020SR非接觸式單點薄層電阻測試儀是一種非接觸式單點薄層電阻測量系統(tǒng)。該設備包含一個渦流傳感器組，可將微弱電流感應到導電薄膜和材料中。樣本中的感應電流會產生與測量對象的薄層電阻相關的電磁場。
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